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MikroMasch
原子力顯微鏡(AFM)探針
掃描探針顯微鏡(SPM)探針
Porous Aluminium 多孔鋁
HOPG 高定向熱解石墨
Test Structure
(Valid from 18 April 2011. Subject to change without notice)
|
| Description
| Part Number
| Shipping unit
| Price, EUR |
High Resolution
| 1
| Hi'RES-C Probes,
1 lever
| HI'RES-C/14/AlBS
HI'RES-C/15/AlBS
HI'RES-C/16/AlBS
HI'RES-C/17/AlBS
HI'RES-C/18/AlBS
HI'RES-C/19/AlBS
| 5 chips
| 400
|
| 15 chips
| 900 |
| 1'
| Hi'RES-W Probes,
1 lever
| HI'RES-W/14/AlBS
HI'RES-W/15/AlBS
HI'RES-W/16/AlBS
HI'RES-W/18/AlBS
| 5 chips
| 400
|
| 15 chips
| 900 |
Conductive Probes
| 2
| DPER Probes
High Resolution
in
Electrical
Measurements
| DPER14
DPER15
DPER16
DPER17
DPER18
| 15 chips
| 450
|
| 50 chips
| 1150
|
| 3
| DPE Probes
Low Noise
in
Electrical
Measurements
| DPE14
DPE15
DPE16
DPE17
DPE18
| 15 chips
| 450
|
| 50 chips
| 1150
|
| 4
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1
lever
| NSC14/Pt/no Al
NSC15/Pt/no Al
NSC16/Pt/no Al
CSC17/Pt/no Al
NSC18/Pt/no Al
NSC19/Pt/no Al
| 15 chips
| 360
|
| 50 chips
| 900
|
| 5
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2
levers
Triangular
| NSC11/Pt/AlBS
NSC21/Pt/AlBS
CSC11/Pt/AlBS
CSC21/Pt/AlBS
| 15 chips
| 390
|
| 50 chips
| 1000
|
| 6
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2
levers
Triangular
| NSC11/Pt/no Al
NSC21/Pt/no Al
CSC11/Pt/no Al
CSC21/Pt/no Al
| 15 chips
| 390
|
| 50 chips
| 1000
|
| 7
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2
levers
Triangular
| NSC35/Pt/AlBS
NSC36/Pt/AlBS
CSC37/Pt/AlBS
CSC38/Pt/AlBS
| 15 chips
| 360
|
| 50 chips
| 900
|
| 8
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2
levers
Triangular
| NSC35/Pt/no Al
NSC36/Pt/no Al
CSC37/Pt/no Al
CSC381/Pt/no Al
| 15 chips
| 360
|
| 50 chips
| 900
|
| 9
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
| NSC14/Cr-Au
NSC15/Cr-Au
NSC16/Cr-Au
CSC17/Cr-Au
NSC18/Cr-Au
NSC19/Cr-Au
| 15 chips
| 360
|
| 50 chips
| 900
|
| 10
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2
levers
Triangular
| NSC11/Cr-Au
NSC21/Cr-Au
CSC11/Cr-Au
CSC21/Cr-Au
| 15 chips
| 390
|
| 50 chips
| 1000
|
| 11
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3
levers
| NSC35/Cr-Au
NSC36/Cr-Au
CSC37/Cr-Au
CSC38/Cr-Au
| 15 chips
| 360
|
| 50 chips
| 900 |
Magnetic Probes
| 12
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
| NSC14/Co-Cr
NSC18/Co-Cr
NSC19/Co-Cr
| 15 chips
| 390
|
| 50 chips
| 1000
|
| 13
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3
levers
| NSC35/Co-Cr
NSC36/Co-Cr
| 15 chips
| 390
|
| 50 chips
| 1000 |
Standard silicon Probes
| 14
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1
lever
| NSC14/AlBS
NSC15/AlBS
NSC16/AlBS
CSC17/AlBS
NSC18/AlBS
NSC19/AlBS
| 15 chips
| 300
|
| 50 chips
| 850
|
| 15
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1
lever
| NSC14/no Al
NSC15/no Al
NSC16/no Al
CSC17/no Al
NSC18/no Al
NSC19/no Al
| 15 chips
| 300
|
| 50 chips
| 850
|
| 16
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2
levers
Triangular
| NSC11/AlBS
NSC21/AlBS
CSC11/AlBS
CSC21/AlBS
| 15 chips
| 390
|
| 50 chips
| 1000
|
| 17
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2
levers
Triangular
| NSC11/no Al
NSC21/no Al
CSC11/no Al
CSC21/no Al
| 15 chips
| 390
|
| 50 chips
| 1000
|
| 18
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3
levers
| NSC35/AlBS
NSC36/AlBS
CSC37/AlBS
CSC38/AlBS
| 15 chips
| 300
|
| 50 chips
| 850
|
| 19
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3
levers
| NSC35/no Al
NSC36/no Al
CSC37/no Al
CSC38/no Al
| 15 chips
| 300
|
| 50 chips
| 850 |
Silicon probes, Force Constant calibrated Cantilevers
| 20
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 1 lever
| NSC14/F/AlBS
NSC15/F/AlBS
NSC16/F/AlBS
CSC17/F/AlBS
NSC18/F/AlBS
NSC19/F/AlBS
| 5 chips
| 200 |
Long Scanning
| 21
| LS Probes,
1 lever
| DP14/LS/AlBS
DP15/LS/AlBS
DP16/LS/AlBS
DP17/LS/AlBS
DP18/LS/AlBS
DP19/LS/AlBS
| 15 chips
| 300
|
| 50 chips
| 900 |
Standard silicon Probes with Si3N4 coating
| 22
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1
lever
| NSC14/Si3N4/AlBS
NSC15/Si3N4/AlBS
NSC16/Si3N4/AlBS
CSC17/Si3N4/AlBS
NSC18/Si3N4/AlBS
NSC19/Si3N4/AlBS
| 15 chips
| 390
|
| 50 chips
| 1000
|
| 23
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip,
1
lever
| NSC14/Si3N4/no Al
NSC15/Si3N4/no Al
NSC16/Si3N4/no Al
CSC17/Si3N4/no Al
NSC18/Si3N4/no Al
NSC19/Si3N4/no Al
| 15 chips
| 390
|
| 50 chips
| 1000
|
| 24
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2
levers
Triangular
| NSC11/Si3N4/AlBS
NSC21/Si3N4/AlBS
CSC11/Si3N4/AlBS
CSC21/Si3N4/AlBS
| 15 chips
| 390
|
| 50 chips
| 1000
|
| 25
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 2
levers
Triangular
| NSC11/Si3N4/no Al
NSC21/Si3N4/no Al
CSC11/Si3N4/no Al
CSC21/Si3N4/no Al
| 15 chips
| 390
|
| 50 chips
| 1000
|
| 26
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3
levers
| NSC35/Si3N4/AlBS
NSC36/Si3N4/AlBS
CSC37/si3N4/AlBS
CSC38/Si3N4/AlBS
| 15 chips
| 390
|
| 50 chips
| 1000
|
| 27
| NSC/CSC Probes
Silicon Tip, 3
levers
| NSC35/si3N4/no Al
NSC36/Si3N4/no Al
CSC37/Si3N4/no Al
CSC38/Si3N4/no Al
| 15 chips
| 390
|
| 50 chips
| 1000 |
Torsional cantilever
| 28
| TL Probes,
1 lever
| TL01/AlBS
TL02/AlBS
| 5 chips
15 chips
50 chips
| 225
600
1700
|
TL01/no Al
TL02/no Al
| 5 chips
15 chips
50 chips
| 225
600
1700 |
Tipless cantilever
| 29
| NSC/CSC Probes
Silicon
Tip, 1 lever
| NSC12/tipless/AlBS
CSC12/tipless/AlBS
| 15 chips
50 chips
| 300
850
|
NSC12/tipless/no Al
CSC12/tipless/no Al
| 15 chips
50 chips
| 300
850
|
NSC12/tipless/Cr-Au
CSC12/tipless/Cr-Au
| 15 chips
50 chips
| 360
900 |
Porous Aluminium
| 30
| Porous Aluminium
| PA01
| 1
| 200 |
HOPG
| 31
| HOPG
mosaic spread
3.5 +/- 0,5
| ZYH + DS/1 mm
ZYH + DS/1,75 mm
ZYH + DS/2 mm
| 5
| 240
330
360
|
| 32
| HOPG
mosaic spread
1.5 +/- 0,3
| ZYD + SS/1 mm
ZYD + SS/1,5 mm
ZYD + SS/2 mm
ZYD + DS/1
mm
ZYD + DS/2 mm
| 3
| 144
180
216
276
420
|
| 33
| HOPG
mosaic spread
0.8 +/- 0,2
| ZYB + SS/1,5 mm
ZYB + DS/1 mm
ZYB + DS/2 mm
| 1
| 100
120
240
|
| 34
| HOPG
mosaic spread
0.4 +/- 0,1
| ZYA + DS/1 mm
ZYA + DS/2 mm
| 1
| 468
700 |
Test Structure
| 35
| TGZ
Vertical Calibration
| TGZ01
TGZ02
TGZ03
TGZ04
TGZ11
| 1
| 100
|
| 36
| TGZ
NIST traceable
| TGZ01C
TGZ02C
TGZ03C
| 1
| 250
|
| 37
| TGX
Lateral Calibration
| TGX01
TGX11
| 1
| 200
|
| 38
| TGG
Grating with
Triangular Steps
| TGG01
| 1
| 200
|
| 39
| TGF
Grating with
Trapezoidal Steps
| TGF11
| 1
| 200 |
Test Structure Sets
| 40
| TGS01
Set of 3 gratings
| TGZ01
TGZ02
TGZ03
| 1
| 200
|
| 41
| TGS01C
Set of 3 gratings
NIST traceable
| TGZ01C
TGZ02C
TGZ03C
| 1
| 650
|
| 42
| TGS02
Set of 6 gratings
| TGZ01
TGZ02
TGZ03
TGG01
TGX01
PA01
| 1
| 500
|
| 43
| TS02C
Set of 6 gratings,
3 gratings
NIST traceable
| TGZ01
TGZ02
TGZ03
TGG01
TGX01
PA01
| 1
| 950
|
| 44
| TGS03
Set of 3 gratings
| TGG01
TGX01
PA01
| 1
| 400 |
您可以訪問MikroMasch公司網(wǎng)站了解更多： www.spmtips.com
高定向熱解石墨（HOPG）
介紹
HOPG是一種新型高純度碳，為顯微分析人員提供了一種可重復(fù)使用的平滑表面。與云母不同的是，HOPG完全無極性適用于元素分析，并且分析信號中僅有碳原子背景信號。HOPG優(yōu)良的表面光滑性使其可以作為空白背景，除非分辨率達到原子級水平。在HOPG發(fā)現(xiàn)之初，其被稱為“初生石墨”。請不要將SPI Supplies的HOPG和玻璃態(tài)碳相混淆。
特性：
薄層狀結(jié)構(gòu)
Gr普通石墨和特殊HOPG均系薄層狀結(jié)構(gòu)，就像云母、二硫化鉬及其他分層物質(zhì)一樣，由平的堆積層組成。所有這些薄層狀的物質(zhì)，其平面比層與層之間承受更大的力量，這也說明了這樣的物質(zhì)容易劈開的特征。
開裂特性- HOPG具有層狀結(jié)構(gòu)，會像云母一樣開裂。通常的方法是先用一條膠帶（如3M “Scotch Brand”雙面膠）粘在HOPG的表面上，然后將其撕下，膠帶上就會粘有一層薄薄的HOPG。新裂表層可以用作樣本基底材料。那么每個樣本上會有多少裂片呢？這很難講清楚。對于好的HOPG（如SPI-1或ZYA），每2mm厚的區(qū)域中大概含有20到40個裂片。我們無法保證裂片的確切數(shù)量，但如果您愿意與我們分享您寶貴的工作經(jīng)驗，我們會席耳恭聽的。HOPG的等級越低，每2mm厚的區(qū)域中裂片數(shù)量就越少，但具體有多少我們也無法準確預(yù)測出。
基面圖像－用原子級分辨率的掃描隧道顯微鏡拍攝HOPG的結(jié)構(gòu)圖像，會得到兩種圖像。通常觀測到的是一個緊密排列矩陣的圖像；在此矩陣中，每個原子被六個相鄰原子包圍，任意兩個原子間距為0.246nm。在理想條件下，特別是探針頭真正為單原子時，您將看到石墨的六邊形“鐵絲網(wǎng)”結(jié)構(gòu)；其中，原子的中心間距為0.1415nm。這個距離是碳原子的基本屬性，與石墨等級無關(guān)。多數(shù)情況下對HOPG的基面進行觀察時，圖像就是此種緊密排列的矩陣。
用作石墨單色器：據(jù)報告，SPI Supplies提供的HOPG（尤其是SPI-1和ZYA級的）比任何其它物質(zhì)都能更有效地進行X射線和中子的衍射。例如對X射線來說，使用HOPG其強度是使用氟化鋰晶體的5倍。使用好的HOPG的單偏轉(zhuǎn)聚焦單色器，產(chǎn)生的馬賽克擴散小，其亮度是同分辨率氟化鋰單色器的3倍。
平整度/粗糙度- HOPG具有多晶結(jié)構(gòu)，其尺寸大小不一。好的HOPG，其晶體可達10mm。新裂表層由多大幾個至十幾個的0.2-0.3nm的原子梯級組成。HOPG質(zhì)量越好，表面粗糙度越小，新裂表層原子梯級數(shù)越少。
馬賽克擴散- 此項指標用于衡量HOPG的定向度。馬賽克擴散越小，HOPG定向度越高，從而裂片表面呈現(xiàn)的梯級越少。馬賽克擴散越低，HOPG價格越高，但其可分裂性越好，產(chǎn)生的裂片相應(yīng)越多，這在某種程度上提高了材料的性價比。
柱狀結(jié)構(gòu)：
柱狀結(jié)構(gòu)在材料平板內(nèi)部呈垂直分布，在側(cè)表面可以看到顆粒邊界。換言之，馬賽克擴散沿顆粒邊界偏離柱狀結(jié)構(gòu)正交軸的角度進行。
高溫中使用
越來越多的科研領(lǐng)域需要使用HOPG，越來越多的場合需要良好的耐高溫特性。以下信息可能會對您有所幫助：
- 空氣中: > 500°C/932°F (開始燃燒)
- 0.1托真空中: > 2500°C/4532°F
- 惰性環(huán)境中(N, Ar, He) > 3500°C/6332°F
z軸校準：
對HOPG裂片表面凹凸部分的高度沒有進行過校準。然而，晶體表面具有固定的結(jié)構(gòu)，單階高度為0.34nm。由于進行了分裂處理，您會很容易地發(fā)現(xiàn)梯級結(jié)構(gòu)。另一種方法是置于烘箱中，通過氧化作用在表面產(chǎn)生蝕刻坑。
高純度- 兩種品牌所有等級的HOPG都具有較高的純度，雜質(zhì)含量在10ppm級或更低。
化學(xué)穩(wěn)定性：
HOPG對包括四氧化鋨在內(nèi)的所有化學(xué)物質(zhì)都具有較高的化學(xué)穩(wěn)定性。然而，當(dāng)其置于SPI Supplies Plasma Prep II等離子蝕刻機產(chǎn)生的氧等離子體中時，HOPG會迅速消失。
導(dǎo)熱性：
由于HOPG各向異性的特點，不同方向上其導(dǎo)熱性也不同。熱導(dǎo)率沿基面方向為1800Wt/C，沿垂直基面方向為8－10Wt/C。任何類型的HOPG，其熱導(dǎo)率都比較高。導(dǎo)熱鱗片與其它HOPG有相同
|
線陣CCD光纖光譜儀
