MURATest亮度均勻性測試儀

ELDIM MURATest亮度均勻性測試儀

MURATest系統(tǒng)是用于對表面發(fā)光產(chǎn)品的色度均勻性的快速精確的檢測。對顯示模組、顯示墻及成批顯示設備的色度均勻性的精確的指標量化，此設備是理想的選擇，在視頻比色領域MURATest系統(tǒng)是一個突破。它的創(chuàng)新設計，使用了5個色度濾波器和高品質(zhì)的光學器件，同樣，它的制造過程包括多樣化的設計和校準步驟，保證了它的檢測性能。

傳感器頭
塞貝爾式冷卻照相機在極限環(huán)境下（象非常低的亮度電平）可傳送高靈敏性的光信號，它可適應各種各樣的傳感器的靈敏度，包括巨大的16M像素。

技術特點如下：
低噪聲、高動態(tài)范圍
藍增強柯達CCD
冷卻式CCD把溫度完全穩(wěn)定在-20℃。
16位A/D轉(zhuǎn)換器
暗電流補償
自動或手動靈敏操縱模式
USB2.0插頭及播放

色度過濾
I.轉(zhuǎn)輪式色度計典型特征是三個濾波器產(chǎn)生很低的色度精確度，三濾波式色度計只針對周圍的有用的色度參數(shù)（象校準標準）是精確的，它們的精度無疑落下了色度空間中的其它顏色，ELDIM公司的設計是通過提供一套可選擇的方案，在任何色度刺激下測量色度精度在0.005RMS（ x,y值）以內(nèi)。

II.設計功能
CCD傳感器光譜響應的表示法
使用5級濾波器
每級濾波器特別的設計可以完美地擬合CIE參數(shù)曲線
圓形CCD光學設計避免了失真
高級別的光學系統(tǒng)提供了精確的光傳導

III.校準
NIST（國家標準與技術協(xié)會）推薦：從4到7色的矩陣法
參考色分散明顯的色空間
連接國際標準

光學特性

所有的光學器件的制造均通過ELDIM實驗室，獨特的塞貝爾CCD的設計及高品質(zhì)的控制過程使其具有高MFT和低失真特性。
光學失真低于CCD像素點
無虛影
失真﹤0.1%
MTF﹥50lpm
前置光圈虛影電子眼測量
當改變工作距離時無額外校準

應用

由于配備附加的專業(yè)光學系統(tǒng)，專業(yè)執(zhí)行濾波器和近產(chǎn)生的滿足許多工業(yè)標準的科技傳感器，因此ELDIM的MURATest系統(tǒng)適用于許多不同的高級別要求的光學領域，此系統(tǒng)還配備安裝了專業(yè)的應用軟件。可應用與以下領域：
LCD模組的均勻性的缺陷
PDP圖像拖影
CCFL照明和背光模組
儀表盤和駕駛倉環(huán)境
發(fā)射系統(tǒng)均勻化

軟件

軟件可支持雙方照相采樣和數(shù)據(jù)分析的無線控制，所有的照相參數(shù)的設置是通過一個對話框進行設置、參數(shù)保存然后應用的。軟件界面友好易懂，包括方便的分析工具，例如典型的是：縮放，區(qū)域選擇，數(shù)據(jù)報告輸出。軟件自帶的ActiveX功能庫包括更多的自動分析和檢測功能，因此用戶可以用LabVIEW，Excel，Visual Basic.建立自己的控制程序。

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