硅晶電池片反射率儀

R9000硅晶電池片反射率儀
太陽能領域全自動兩維掃描反射率儀

通過反射率測量進行絨化控制
通過顏色和厚度測量進行減反射膜控制

產品特點：

• 膜層反射率、膜厚和顏色的離線測量
  用于研發(fā)，生產過程對鍍膜工藝的質量控制
  設計人性化
  精確，重復性好
  性價比高
  具有全部知識產權，定制設計平臺好
  檢測速度快，檢測工序簡單

開機無需預熱；測試同一塊樣品，節(jié)約工人時間50%以上；

連續(xù)測試樣品，節(jié)約工人時間80%以上。

R9000系列設計精度更高，樣品更加貼近積分球，測量的反射率更加準確。

小提示：按照國際上通行的光譜測量標準（CIE），漫反射樣品的反射率測量需要使用積分球。因此，要獲得電池片絨面反射率的準確數(shù)據，需要使用積分球。積分球在使用中要求樣品盡量貼近開口。樣品離積分球開口越近，積分球收集到的光越多，反射率測量越準確。

高性價比和售后服務

同樣價格更多實用配置和功能。
每臺儀器都選用高質量零件，零件全檢，系統(tǒng)出場前必須全部通過測試。
廠家隨同儀器提供完整的技術資料和軟件。
免費培訓用戶技術人員2人，并進行操作演示、技術咨詢及數(shù)據處理等培訓。
維修響應時間：賣方接到買方的維修通知后24-48小時迅速響應。
免費質保期內賣方負責所有因設備質量問題而產生的費用。
質保期后的服務后，提供終身維護服務，只按廠價收取所換的成本費，不收維護費。
國內設有物流中心，免去了購買進口產品不可避免的維修周期長的弊病和高關稅。
自主研發(fā)，具有更大的自主改進和開行性，對不同的客戶要求可以積極有效的響應。

R9000-2DMA自動圖譜（Mapping）功能

-單塊片子反射率并不均勻，傳統(tǒng)反射率儀器只能測試某一點，多點測試靠人工移動，數(shù)據沒有可比性。

-R9000 提供全自動多點掃描功能，讓您更準確了解自己的產品情況

R9000-2DMA應用

電池片（Cell/module) 減反工藝，優(yōu)化及監(jiān)控包括：
酸制絨工藝； 堿制絨工藝； SiNx 減反膜工藝； 復合減反膜工藝
EVA封裝工藝； TiO2減反膜工藝； SiO2鈍化工藝； 光伏（絨面）玻璃封裝工藝

裸片和鍍膜片測量裸片和鍍膜片測量:
兩維掃描（Mapping）
快速，操作方便
積分式、非接觸

測量參數(shù)：
單點反射率
兩維掃描反射率
電池片不均勻度
膜厚
色度（顏色）

產品組件:
兩維全自動反射率儀R9000-2DMA
標準白參考瓦
標準鏡面反射體
控制軟件Morpho-R9MA
膜厚及色度分析軟件
燈泡

用于檢測所有相關硅片類型:
單晶硅片（拋光、粗糙、絨化）
多晶硅片（拋光、粗糙、絨化）
硅片尺寸：125x125 / 156x156 mm

現(xiàn)場使用情況