原子力顯微鏡共聚焦光譜儀

Atomic Force Microscope (AFM) combined with Confocal Spectrometer and Optical Microscope

原子力顯微鏡共聚焦光譜儀

NanoFlex是一臺整合了掃描探針顯微鏡，共聚焦顯微鏡和拉曼光譜儀的多種先進技術整合的設備。NanoFlex可以同時得到樣品表明的光譜和形態(tài)信息，可以將樣品表面的形態(tài)圖和化學組分結合起來。

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應用：
掃描探針光譜；
掃描共聚焦拉曼光譜；
近場掃描光譜；
增強探針拉曼光譜(TERS)；
增強探針熒光光譜(TEFS)；

用途：
化學。結合掃描探針光譜和共聚焦拉曼光譜，分析有機、無機化合物的組分和結構；
物理。分析不同襯底的表明物理特性；
生物。研究組織、細胞、細胞結構、生物分子間的相互作用；
跨學科分析。納米科技、藥物學、材料科學、礦物學、地質學、油畫分析等；

NanoFlex的優(yōu)勢：
同步共聚焦光譜，形態(tài)信息；
獲得樣品表面的掃描光譜；
掃描平臺和掃描頭的合并操作；
光學機構水平放置；
可以與正置和倒置顯微鏡聯(lián)用，測量透明或者不透明樣品；
多機構聯(lián)動軟件；

NanoFlex整合了：
掃描探針顯微鏡；
光學顯微鏡(正置或倒置)；
共聚焦激光顯微鏡；
拉曼光譜儀；
熒光光譜儀；

Vanadium test specimen. 30x30 um scanning field. Laser confocal image.

Single-walled carbon nanotubes (SWNTs), SPM image.

產品資料下載

訪問供應商網站：www.nanoscantech.com

Nano Scan Technology還有其余AFM、SPM產品：

Centaur (AFM, Confocal, Raman, Fluorescence System):
Scanning AFM/Confocal/Raman/Fluorescence system for Raman/Fluorescence and AFM/Raman (TERS) imaging

Certus Optic (SPM + Optical Microscope):
integrated optical (light) and scanning probe microscopes

Certus (SPM):
Scanning Probe Microscope

Snotra (Cryo-AFM):
Scanning Probe Microscope + Cryo-Ultramicrotome